「走査電子顕微鏡分析」一覧
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SEM/断面SEM分析概略SEM（Scanning Electron Microscope：走査型電子顕微鏡）では表面の凹凸像・組成コントラスト像を取得することができます。また、FIB-SEMやイオンミリング装置で試料の断面加工を行い、SEMで微細…
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