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高衝撃試験

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衝撃試験  / 2016年08月08日 /  エネルギー 航空・宇宙 電子・半導体

 

【高衝撃試験】

 

 

 

 

 

この試験機は、主に小型の電子部品等の衝撃試験が実施できます。

試験は、正弦半波、台形波、のこぎり波などに対応しており(当社の場合は正弦波のみに対応)、IEC規格、JIS規格、MIL規格、JEITA(EIAJ)規格、その他の社内規格などにも対応しております。

 

作用時間にもよりますが、対応可能な衝撃範囲は10~3,000G。

 

当社の場合は、ショックアンプを使い26,000Gまで対応可能となっております。

 

また、この試験機は、ニューマチック方式により広範囲(衝撃加速度/作用時間)の試験条件が容易に再現することができます。

 

【試験規格】 

・JIS C 60068-2-27 

・IEC 60068-2-27 

・MIL-STD-202 

・MIL-STD-810 

・MIL-STD-883 

・EIAJ ED-4701/400 

・UN国連勧告試験 (T4)など 

 

 

 

◆評価試験ご希望の方はお気軽にお問い合わせ下さい。◆

 

輸送包装試験に関するご相談・ご質問などございましたらお気軽にお問い合わせください。

製品概要 【主な仕様】

制御方式 :コンピュータによるプログラム制御方式
駆動方式 :ニューマチック方式
衝撃波形 :正弦半波、のこぎり波
加速度範囲 :10から3000 G (作用時間による )
作用時間 :0.1から30 ms  (加速度による )
最大速度 :838cm/s 繰返し周期 :最大8回/min 最大搭載重量 :90 kg

◆エラストマー使用時
1、正弦半波 (Half sine) : 150 G, 6 msec
2、正弦半波 (Half sine):150 G, 11 msec(想定製品質量:10 kg *冶具含む)

◆JBL包装試験場:ISTA(国際安全輸送協会)認定 _ 2010年12月より

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