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高度・減圧試験

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製品試験サービス  /  エネルギー 航空・宇宙 電子・半導体

 

【高度・減圧試験】

 

 

 

高い高度における低圧環境を想定した高度試験・減圧試験が実施可能です。

 

 

◆評価試験ご希望の方はお気軽にお問い合わせ下さい。◆

 

輸送包装試験に関するご相談・ご質問などございましたらお気軽にお問い合わせください。

製品概要 弊社では、2014年6月より減圧試験装置を導入し、さまざまな気圧条件及び温度条件での受託試験を開始致しました。高い高度で使用される電子機器や医療機器などの高度試験並びに低圧試験、そして、密閉性や気密性を保持しなくてはならない包装が、低圧環境及び、低温・高温環境において適正かどうかを各試験方法に従い実施致します。

●試験槽内寸法： 1,000(W)×1,000(H)×800(D) mm
●温度制御範囲： －65℃　～　＋180℃
●圧力制御範囲： 0.1 kPa　～　101 kPa

包装評価試験、製品評価試験をご希望の方はお気軽にお問い合わせ下さい。
特徴 輸送やトラックでの山越えなど高い高度における低圧環境に遭遇する事があります。この低圧環境は、ASTM D4169やISO、MIL、JISなどにおいて想定される輸送中のハザード要因の1つとして試験項目が規定されております。 電子機器や部品類においては、航空宇宙関連機器をはじめ、搭載する必要がある機器、気圧が低い環境での使用や持ち運びが想定される機器類、二次電池（蓄電池）などは、減圧試験規格に準じた減圧試験方法によって、評価する事が可能です。

【一般的な減圧試験規格】
・ASTM D6653　（包装貨物の減圧試験方法）
・ISO 2873　（包装貨物の減圧試験方法）
・JIS C 60068-2-13　（減圧試験方法）
・JIS C 60068-2-40　（低温・減圧　複合試験方法）
・JIS C 60068-2-41　（高温・減圧　複合試験方法）
・MIL STD-810　（Low Pressure）
・JIS C 8712　（密閉型小型二次電池の安全性）
・JIS W 0812　（航空機搭載機器－環境条件及び試験手順）

その他、ユーザー様の試験条件にも対応致します。
評価試験をご希望の方はお気軽にお問い合わせ下さい。
製品名・型番等
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