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定速温度変化試験 IEC／JIS C 60068 2 14 Nb
自動車 電子・半導体 試験・分析・測定電子機器は、屋内外の環境変化や運転状態の違いにより、急激な温度変動にさらされることがあります。こうした温度ストレスは、材料の膨張・収縮による劣化、内部結露、熱疲労などの不具合を引き起こす要因となります…
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