試験一覧
-
車載用電子機器から外部への放射される不要輻射(EMI)を評価する試験です。広帯域・狭帯域エミッション測定がClass5まで可能です。EMI(Electromagnetic Interference )は電磁妨害放射規制と言われ電子機器が他の…
-
装置から放射される放射性妨害波が、規格限度値を超えていないか評価する試験です。規格によって要求される測定周波数範囲および限度値は異なります。一般的に限度値はクラスにより異なり、クラス分けは使用環境によ…
-
車載用電子機器の電源ハーネスに重畳する伝導ノイズが、規格限度値を超えていないか評価する試験です。電圧法は、電源と車載用電子機器の電源線の間に擬似電源回路網(LISN)を接続し、ここから妨害波を取り出し、ス…
-
■雑音端子電圧測定、伝導エミッション、伝導EMI、Conducted Emission装置の電源ラインや通信ライン(TEL/LAN等)を伝わる伝導性妨害波が、規格限度値を超えていないか評価する試験です。放射妨害と同様、一般的に…
-
■パッケージ開封故障解析・良品解析・分析など、電子部品の解析では多くの場合パッケージ内部の素子表面の状況・状態を観察する必要があります。樹脂内部構造や、素子部に与えるダメージを抑えた開封を行うことが重…
-
電子線マイクロアナライザ(EPMA)は、試料から発生する特性X線を利用して元素分析を行う分析装置です。電子ビームを使用することから、極微小領域の元素分析及び元素分布を調べることが出来ます。●B~Uまでの元素…
-
■気密封止パッケージ内部ガス分析(IVC)半導体の信頼性を左右する大きな要因の1つが微量水分です。この試験では、セラミック・メタル・ガラスなどにより封止された中空パッケージ内の封止ガス中に含まれる水分やガ…
-
■熱過渡解析熱抵抗測定の新しいスタンダードである、JEDEC準拠のRthj-c測定をご提供します。ディスクリート部品からモジュールまで、幅広い半導体部品の熱抵抗を測定いたします。LEDについては、熱抵抗評価に際して…
-
■良品構造解析・DPA部品の状態や欠陥の観察から、将来故障に至る危険性を推定するのが「良品解析」です。その結果は、工程改良への反映にも応用されます。実施例として、LSI・電子部品・プリント配線基板等の品質比…
-
■定加速度試験とは、陸上輸送機・航空機・ロケットや回転機器等に使用される電子部品および半導体製品等に現実の使用状態とはかけ離れた高加速度(高ストレス)を角方向へ加えることで、振動・衝撃試験では検出でき…
-
■環境試験環境試験とは電子部品や装置が受けるさまざまな環境を再現し、製品がその環境に耐えうるか確認するための試験の総称です。温湿度のほか、紫外線や埃、水、さらには腐食性ガスや塩水等による影響を確認しま…
- サイト内検索
- オフィシャルサイト
- ページカテゴリ一覧
- 新着ページ
-
- 製品品質向上のための信頼性評価と解析セミナー[6/21 オンライン]のご案内 (2024年04月24日)
- 製品品質向上のための信頼性評価と解析セミナー[7/19 オンライン]のご案内 (2024年04月24日)
- REACH規則 第31次SVHC 6物質分析サービス開始 (2024年04月22日)
- 人とくるまのテクノロジー展 2024 YOKOHAMAに出展 (2024年04月16日)
- 医療機器のEMC試験に関するWEBページ新設 (2024年04月11日)