| イベント名 | ＳｉＣパワー半導体の最新動向と ＳｉＣ単結晶ウェハ製造の技術動向 |
|---|---|
| 開催期間 |
2025年12月11日（木）
10:30～16:30 【アーカイブの視聴期間】 2025年12月12日(金)～12月18日(木)まで ※このセミナーはアーカイブ付きです。セミナー終了後も繰り返しの視聴学習が可能です。 ※会社・自宅にいながら受講可能です※ 【配布資料】 PDFテキスト(印刷可・編集不可) ※開催2日前を目安に、弊社HPのマイページよりダウンロード可となります。 |
| 会場名 | 【ZoomによるLive配信セミナー】アーカイブ(見逃し)配信付き |
| 会場の住所 | オンライン |
| お申し込み期限日 | 2025年12月11日（木）10時 |
| お申し込み受付人数 | 30 名様 |
| お申し込み |
|
ＳｉＣパワー半導体の最新動向と
ＳｉＣ単結晶ウェハ製造の技術動向
■SiC単結晶ウェハの開発状況・ビジネス展開■
■SiC単結晶ウェハ開発において今後取り組むべき技術課題■
※視聴期間は終了翌日から7日間を予定しています。
※マイページからZoomの録画視聴用リンクにてご視聴いただきます。
★ SiCパワー半導体の現状・動向、製造プロセス技術まで俯瞰して徹底解説いたします。
| 【Live配信受講者 限定特典のご案内】
Live(Zoom)配信受講者には、特典(無料)として
「アーカイブ配信」の閲覧権が付与されます。
オンライン講習特有の回線トラブルや聞き逃し、振り返り学習にぜひ活用ください。 |
| 講師 |
関西学院大学 工学部 教授 大谷 昇 氏
| セミナー趣旨 |
現状150mm口径のSiC単結晶ウェハが市販されており、ここ数年の間には200mm口径ウェハの製造・量産が開始されることがアナウンスされている。これを機にxEV向けのSiCパワーデバイスの本格量産が始まるとされる。パワー半導体向けには、その電子物性の優位性から4H-SiC単結晶ウェハが使用される。市販の4H-SiC単結晶ウェハを用いて、既に、高速・低損失のSiCショットキー障壁ダイオード（SBD）、金属–酸化膜–半導体電界効果トランジスタ（MOSFET）が製造・販売され、鉄道車両や産業機器に搭載されているが、SiCパワーデバイスのさらなる高性能化・高信頼性化、そして低コスト化には、そこで使用されているSiC単結晶ウェハのさらなる高品質化・低コスト化が必要不可欠である。
本講演では、SiCパワー半導体開発の最前線を紹介すると共に、SiC単結晶ウェハの開発状況・ビジネス展開について解説し、SiC単結晶ウェハ開発において今後取り組むべき技術課題を議論する。
| セミナー講演内容 |
＜得られる知識、技術＞
SiCパワー半導体に関する基礎知識、開発・ビジネスの概況、SiCパワー半導体の礎となるSiC単結晶ウェハに関する基礎知識、開発・ビジネスの概況について修得できます。
＜プログラム＞ ※時間配分は目安です。進行状況により前後することがございます。
■SiCパワー半導体開発の現状 【10:30～12:00】
１．SiCパワー半導体開発の背景
1.1 環境・エネルギー技術としての位置付け
1.2 SiCパワー半導体開発がもたらすインパクト
２．SiCパワー半導体開発の歴史
2.1 SiCパワー半導体開発の黎明期
2.2 SiC単結晶成長とエピタキシャル成長のブレイクスルー
３．SiCパワー半導体開発の現状と動向
3.1 SiCパワー半導体の市場
3.2 SiCパワー半導体関連の学会・業界動向
3.3 SiCパワー半導体関連の最近のニュース
４．SiC単結晶の物性的特徴と各種デバイス応用
4.1 SiC単結晶とは？
4.2 SiC単結晶の物性と特長
4.3 SiC単結晶の各種デバイス応用
５．SiCパワーデバイスの最近の進展
5.1 SiCパワーデバイスの特長
5.2 SiCパワーデバイス（SBD、MOSFET）の現状
5.3 SiCパワーデバイスのシステム応用
昼食休憩 【12:00～13:00】
■SiC単結晶ウェハ製造プロセスの現状と展望 【13:00～14:30】
６．SiC単結晶のバルク結晶成長
6.1 SiC単結晶成長の熱力学
6.2 昇華再結晶法
6.3 溶液成長法
6.4 高温CVD法（ガス法）
6.5 その他成長法
７．SiC単結晶ウェハの加工技術
7.1 SiC単結晶ウェハの加工プロセス
7.2 SiC単結晶の切断技術
7.3 SiC単結晶ウェハの研磨技術
８．SiC単結晶ウェハ上へのSiCエピタキシャル薄膜成長技術
8.1 SiCエピタキシャル薄膜成長技術の概要
8.2 SiCエピタキシャル薄膜成長装置の動向
【14:30～14:40】 休憩
■SiC単結晶ウェハ製造の技術課題 【14:40～16:10】
９．SiC単結晶のポリタイプ制御
9.1 SiC単結晶のポリタイプ現象
9.2 各種ポリタイプの特性
9.3 SiC単結晶成長におけるポリタイプ制御
１０． SiC単結晶中の拡張欠陥
10.1 各種拡張欠陥の分類
10.2 拡張欠陥の評価法
１１．SiC単結晶のウェハ加工
11.1 ウェハ加工の技術課題
11.2 ウェハ加工技術の現状
１２．SiCエピタキシャル薄膜成長
12.1 エピタキシャル薄膜成長の技術課題
12.2 エピタキシャル薄膜成長技術の現状
１３．SiC単結晶ウェハの電気特性制御
13.1 低抵抗率SiC単結晶ウェハの必要性
13.2 低抵抗率SiC単結晶ウェハの技術課題と現状
１４．SiC単結晶ウェハの高品質化
14.1 マイクロパイプ欠陥の低減
14.2 貫通転位の低減
14.3 基底面転位の低減
１５．まとめ
□質疑応答□ 【16:10～16:30】
※詳細・お申込みは上記
「お申し込みはこちらから」（遷移先WEBサイト）よりご確認ください。
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