対応試験の紹介
■HAST(不飽和加圧蒸気試験)
電子部品の信頼性試験(評価)に採用されたもので、デバイスに温度と湿度ストレス、場合によってはバイアスを同時に加える方法がとられており、並列複合試験の代表的な試験方法です。
■PCT(飽和加圧蒸気試験)
飽和水蒸気での高温試験で、HAST以上に厳しい試験条件設定が可能です。
(対応規格:JIS C 60068-2-66)
対応工業規格
- JIS C 60068-2-66
試験所所在地
- 大阪府堺市
- 東京都大田区
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