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分析、故障解析、信頼性試験、試料作製、レーザ加工、再現実験 株式会社クオルテック

試験一覧

  • X線光電子分光分析(XPS)

    XPSとは、X線光電子分光を表し、AESとはオージェ電子分光を表します。SEM/EDS分析では、難しかった試料最表面(情報深さ0.5~6nm)の厚み領域における元素分析・化学状態分析が可能となります。XPS:有機・無機の表…

  • プラズマFIB-SEM

    3Dパッケージの故障解析や、広い領域のFIB加工や観察など様々なニーズに対応します。Xeを用いたプラズマFIBなので、従来と比べて短時間で大面積(最大500μm幅)の加工が可能。また、FE-SEMを搭載しており、断面像の…

  • 塩水滴下試験

    塩水を一定量、一定間隔にて滴下し、腐食やマイグレーションの状況を確認する試験です。同時に電圧を印加して試験を行うことにより、短絡電流による発火・発煙・燃焼の有無を確認することも可能です。

  • X線透過観察

    X線透視観察では、物質の内部構造を非破壊で観察できます。非破壊検査の中で最も代表的なものが、このX線顕微鏡を使った透過観察です。クオルテックで使用しているX線顕微鏡は、重さ5kg、幅440mm×長さ500mm×高さ1…

  • 超音波顕微鏡観察

    物質を透過する超音波の音響インピーダンスの差を利用して、物質中のボイドなどを非破壊で観察する手法です。Sonoscan社の最新モデルであるGen6を導入。異なる深さの複数層の同時スキャン可能(最大100層)。最大走…

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