試験一覧
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XPSとは、X線光電子分光を表し、AESとはオージェ電子分光を表します。SEM/EDS分析では、難しかった試料最表面(情報深さ0.5~6nm)の厚み領域における元素分析・化学状態分析が可能となります。XPS:有機・無機の表…
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3Dパッケージの故障解析や、広い領域のFIB加工や観察など様々なニーズに対応します。Xeを用いたプラズマFIBなので、従来と比べて短時間で大面積(最大500μm幅)の加工が可能。また、FE-SEMを搭載しており、断面像の…
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X線透視観察では、物質の内部構造を非破壊で観察できます。非破壊検査の中で最も代表的なものが、このX線顕微鏡を使った透過観察です。クオルテックで使用しているX線顕微鏡は、重さ5kg、幅440mm×長さ500mm×高さ1…
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物質を透過する超音波の音響インピーダンスの差を利用して、物質中のボイドなどを非破壊で観察する手法です。Sonoscan社の最新モデルであるGen6を導入。異なる深さの複数層の同時スキャン可能(最大100層)。最大走…
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走査透過電子顕微鏡(STEM)はFIBなどで薄片化した試料に電子ビームを照射し、試料を透過してきた電子情報を捉え、原子・分子像を直接観察可能なレベルでの高倍率・高分解能観察が可能な装置です。走査透過電子顕微…
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CTとはComputed Tomographyの省略で、コンピュータ断面撮影法と呼ばれており物体を走査(scan)することからX線CTスキャンと呼ばれています。特徴としては、物体をさまざまな方向からX線で撮影し、再構成処理を行うこ…
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温度だけでなく湿度も一定に保ったまま槽内で長時間の通電による特性劣化の変動を評価したり、マイグレーションやウィスカの加速評価等を行う試験です。
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帯電した導電性の物体が他の導電性の物体に接触し、あるいは充分に接近すると、激しい放電が発生します。この現象はESD(electro-static discharge:静電気放電)と呼ばれ、誤動作や損傷などの問題を引き起こすこと…
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■HAST(不飽和加圧蒸気試験)電子部品の信頼性試験(評価)に採用されたもので、デバイスに温度と湿度ストレス、場合によってはバイアスを同時に加える方法がとられており、並列複合試験の代表的な試験方法です。■…
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低温と高温の間を一定間隔で移動する最も標準的なサイクル試験です。信頼性試験としてこの試験を行った場合は、試験後、外観、めっきスルーホールまたは内層接続の導通抵抗値を測定し、抵抗変化率は10%以下であるこ…
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車載用を中心としたパワー半導体は、高低温や振動など厳しい環境下においても、高い信頼性が求められます。特に、半導体素子の自己発熱と冷却を短時間で繰り返すパワーサイクル試験のよる耐久性評価が非常に重要です…
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HV・EVなどの分野では、部品や基板について1000V超の耐圧要求があります。そのため、従来のマイグレーション試験では評価できなかった高電圧の試験に対するニーズが高まっています。特に、基板は複数の有機材料で構…
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材料は繰返し応力を受けると静的な引っ張り強さや降伏応力よりも小さい力で破壊に至ります。疲労試験では繰り返しの試験力や変位を与え、製品の疲労寿命や耐久性を評価します。電磁力式アクチュエータにより高精度な…
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温度サイクル試験は、外部環境により温度が繰り返し変化する状況を想定し、熱ストレスを与えて耐性を確認する試験です。温度の変化または温度変化の繰り返しが、電子部品や機器に与える影響を確認します。
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耐候性試験は太陽光、温湿度、降雨、結露などの屋外または屋内の劣化因子を人工的に再現し、その環境に暴露した製品、材料の劣化を加速促進させる試験です。キセノンアークランプは試験材料を自然太陽光に暴露すると…
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塵埃の厳しい使用環境でも各種の部品が正常に機能することが要求され、特に自動車のエンジンルームは最も塵埃環境が厳しいと言われています。本試験は使用環境に合わせて耐塵埃性を評価することを目的とした試験です…
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塩水噴霧試験は大気腐食を対象にした腐食試験法の一つで、塩化ナトリウム水溶液を噴霧した雰囲気に試験片をさらして行う試験です。試験対象は金属材料またはめっきや塗装膜等の表面処理品で、腐食・錆・変色・剥離・…
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振動試験とは、使用環境における振動ストレスに、場合によっては温度や湿度のストレスも加え供試品が耐えうるかどうかを確認する試験です。特に自動車エンジンルームの環境はこの3条件が共に非常に厳しいため、この…
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