「信頼性試験」一覧
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パワー半導体の信頼性試験における短絡状態とは通常、パワー半導体デバイスは、高速のスイッチとして動作します。スイッチとして動作しているときは、オフ（電圧：大、電流：微小）とオン（電圧：小、電流：大）の二…
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ディスプレイ製品の不良解析、構造解析、信頼性試験◾️パネル評価・解析、信頼性試験、表示不良解析、パネル構造解析、EMC対策等パネルモジュールの品質、分析をトータルサポートします。・信頼性評価のための駆動…
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【試験概要】自動車に使用される電子機器の負サージ耐量を評価する試験です。火花サージを想定した方形波（フィールドディケイ）波形と、バーストフィールドディケイ波形の出力が可能です。日本規格のJASO、国際規格…
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【試験概要】オルタネータがバッテリを充電している状態で、接続不良やバッテリ端子外れを起こした場合、充電中の負荷が急変します。この急変時に発生する正サージへの耐性を評価する試験です。持続時間の比較的長い…
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【実動作に近い環境での試験および評価】一般的なパワーサイクル試験（及び連続通電試験）に加え、パルス状の試験電流をサンプルへ印加させる「パルス通電パワーサイクル試験」も実施しています。「パワーサイクル試…
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