8/26開講 第1期受講(2024年8月26日開講) ≪解説動画で学ぶeラーニング講座≫ 分析技術による異物問題への対処法とノウハウ
第1期受講(2024年8月26日開講)
≪解説動画で学ぶeラーニング講座≫
分析技術による異物問題への対処法とノウハウ
■異物の混入・検出/サンプリング■ ■異物分析・FT-IR分析ノウハウ■
■迅速な原因解明と対策■
第1期(2024年8月26日開講) 申込みページ |
(穴埋問題) FT-IRスペクトル解析
≫詳しくは下記『通信講座講演内容』をご覧ください。
■解説動画は、在籍期間4か月間は何度でも視聴可能です。
■テキスト資料はPDFデータ(プリントアウト可、編集不可)となります。
■演習問題は、講師が直接添削いたします。
■講師への質問が可能です。
(Q&Aは受講者間で共有されます)
開講日 | 2024年8月26日 (月) | ||||||||||||||||||||||||||||
講座講数・期間 |
【第1期受講】 ①解説動画視聴期間:2024年8月26日(月)~2024年12月26日(木) ②演習問題提出期限:2024年10月25日(金) ③講師への質問期限:2024年12月26日(木) |
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1口の受講者数 |
1口3名まで受講可能 |
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受講料(税込 |
1口 62,700円 ( E-Mail案内登録価格 59,565円 )
定価:本体57,000円+税5,700円 会員:本体54,150円+税5,415円
[1名受講も可能です] 定価:本体32,000円+税3,200円
金額追加で受講可能です
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スケジュール |
●受講開始日
2024年8月26日 (月) 受講者専用ページは開講日よりご利用いただけます。 ●解答用紙:ご提出期限 2024年10月25日 (金) ○添削のご返却日 2024年11月下旬 ある一定の基準をクリアした方には『修了証』を発行いたします。 ○講師への質問 2024年12月26日 (木)まで ●在籍期間 2024年12月26日 (木)まで ※解説映像は在籍期間中のみ閲覧することができます。
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受講条件 |
※お申込み前に(1)~(3)を必ずご確認ください |
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教材 |
■解説動画 : 講演映像 一定基準をクリアした方に「修了証」を発行します。 |
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備考 |
□学習の目安 |
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【講師への質問】 |
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お申込み |
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講師 |
(株)住化分析センター 技術開発センター 大阪ラボラトリー 主幹部員 末広 省吾 氏
<経歴>
1992年住化分析センター入社後、異物分析に必要な設備導入・ラボ整備から、事業立ち上げまで携わりました。その後、各種材料のマイクロアナリシス、製造工程管理分析(設備洗浄確認試験)、次世代蓄電池材料評価技術開発(NEDO)さらには放射光による分析技術開発等を行ってきました。しかしながら、いずれの業務でも分析試料中の混入異物による問題に対して何らかの形で繋がっていたのが実情です。これまでの業務経験を通じて、様々な角度から異物問題の現状と対応策について解説する事で、皆様のお役に立つ事が出来れば幸いです。
プログラム |
異物問題の現状および検出・サンプリング方法のノウハウ (映像時間 01:34:27)
様々な製品で混入異物によるトラブルが発生しています。衛生環境の向上は、異物問題を抑制しますが、花粉症や一部の食物アレルギーに代表されるように、私たちはそれまで気付かなかった異物にまで反応しはじめました。異物ゼロ化は企業にとって難しい課題ですが、具体的にどの様な異物が混入しやすいのでしょうか。混入した異物を検出し、分析するために必要なサンプリングについても解説します。
【内容】
1. 異物問題の現状
(1) 異物とは何か
(2) 事故拡大を防止するために~担当者の心得
(3) 人体からの発塵
(4) 繊維状(糸状)異物
(5) 昆虫
(6) カビ
2. 異物の検出
(1) 異物の発見と原因解明までのフロー
(2) 異物の検出方法
(3) 異物分析の前に~情報収集
3. 異物のサンプリング
(1) 溶液中微小異物の捕集
(2) マイクロマニピュレータシステム
(3) ミクロトームによる試料の切片作製・面出し
(記述問題) 異物分析を行う前確認・注意すべきこと
※講師の添削・コメント付き
異物分析~FT-IR分析とその他分析法の組み合わせ~ (映像時間 01:32:15)
検出された異物を分析し、迅速な原因究明に繋げるためには、異物の大きさや性状にマッチする分析法の適用が肝心です。最も汎用されるFT-IR分析を中心に、各手法で分かる事・分からない事に対する理解を深め、分析担当者としてのスキルアップをはかります。
【内容】
1. 分析法の概要
2. FT-IR分析の基礎
(1) 装置構成・測定フロー
(2) 適切な結果を得るために
(3) スペクトルの読み方
3. その他代表的手法
(1) 走査電子顕微鏡(SEM)
(2) 電子線マイクロアナライザ(EPMA)
(3) X線回折(XRD)
(4) ラマン分光法
(5) 熱分解GC-MS
(6) 顕微赤外イメージング、その他
4. まとめ(各分析法において分かる事&分からない事)
(記述問題) 微小異物のサンプリングから測定時に注意すべきこと
※講師の添削・コメント付き
迅速な原因解明のために、今からできる事 (映像時間 00:55:39)
混入異物分析は、結果からスピーディに原因究明へと辿り着くことが大事です。異物トラブルによる企業へのダメージが深刻化する中、これからは混入トラブルを最小限に抑えるため事前の分析的支援に重点を置く必要があります。では、具体的に何をすれば良いのか、について解説します。
【内容】
1. 迅速な原因解明のために
同定から個別化へ向けた、分析手法の活用(形態的、元素的、熱物性的な違いからの識別)
2. 今からできる対策
(1) 迅速に参照物質を提供・比較分析するには?
(2) 分析結果(測定スペクトル)による個別化精度を上げるには?
(3) 製造環境から混入した異物の同定精度を上げるには?
(4) 交叉汚染対策
3. まとめ
(穴埋問題) FT-IRスペクトル解析
※講師の添削・コメント付き
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