【装置開発】高性能のパワーサイクル試験機を開発

多数のデバイスを同時に試験ができる
高性能なパワーサイクル試験機
「パワーステーションＰＳ１０１」を開発！

• あらゆるパワー半導体のチップ温度をリアルタイムで測定
• 多数のデバイスを同時に試験できる
• 破壊原因を特定してデバイスを確保できる

など、世界トップレベルの機能、性能を備えています。

車載用のパワー半導体、電子部品は、大電流、高電圧に耐え、過酷な環境でも動作する信頼性が要求されます。これまで、パワーサイクル試験では、デバイスが完全に破壊するため破壊原因の解析が困難、次々と開発される新デバイスの特性に応じた制御ができない、などの問題がありました。

当社では、自動車メーカーなど数々のパワーサイクル試験の受託を通じて、２年間で１００種類以上の制御方法を開発するなど、蓄積したノウハウをもとに、数々の問題を解決しました。これによって、車載部品の開発・設計効率の向上と信頼性を確保します。

今後は電機・電子・自動車関連メーカーなど新規開拓に力を入れ、本格的に販売していきます。ユーザーによって仕様が異なりますので、受注生産で対応しますのでお気軽にご相談ください。


【主な特徴】
　○Ｔｊ（ジャンクション温度）をリアルタイムでモニター可能
　○最大１２デバイスまで同時に試験可能
　○試験中に発生するデバイス破壊の前兆を検知、破壊原因を特定
　○温度センサーが内蔵されていないデバイスでも温度を正確に測定
　○電流、時間、温度の制御が柔軟にできる
　○実機と同等の制御信号を用いて試験ができる
　○新開発のデバイスでも、特性に応じた制御が可能
　◎デバイスの開発・設計の効率化、スピード向上に寄与

【適用範囲】
　対象デバイス：ＭＯＳＦＥＴ、ＧａＮ、ＳｉＣ、ＳＪＦＥＴ、ＩＧＢＴなどパワーデバイス
　設定ＯＮ時間：０,５ｓｅｃ～２４０ｓｅｃ
　設定冷却時間：０.５ｓｅｃ～１０００ｓｅｃ
　設定サイクル数：１，０００，０００サイクル以上
　冷却方法：水冷、空冷
　印加電流：７６０Ａ以下
　デバイス温度モニター方式：熱電対、保護ダイオード、その他