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イベント

『人とくるまのテクノロジー展』に高性能パワーサイクル試験装置を出展

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 / 2016年06月23日 /  自動車 電子・半導体 試験・分析・測定
イベント名 人とくるまのテクノロジー展2016名古屋
開催期間 2016年06月29日(水) ~ 2016年07月01日(金)
10:00~18:00
※1日は17:00まで

会場名 名古屋市国際展示場(ポートメッセなごや)
ブース番号 112
会場の住所 愛知県愛知県名古屋市港区金城ふ頭2-2
地図 www.nipc.city.nagoya.jp/pmn/access/index.html

人とくるまのテクノロジー展2016 名古屋に出展します

自社開発の「パワーサイクル試験装置」をはじめ、「大型断面研磨」のサンプル、「高分解能X線CT」など、多数のパネルを使って車載部品の信頼性を確保する技術をご提案します。

ぜひ、足をお運びください。

 


「パワーサイクル試験装置」

パワーサイクル試験は、パワー半導体デバイスに通電オンオフを繰り返し、接合部など耐久性を評価する信頼性試験。パワー半導体に応じて、様々な制御方法があり、当社では100種以上のシステムを開発しています。

今回開発した装置では、
①新開発のデバイスでも特性に応じた制御が柔軟にできる
②12デバイスまで同時に試験可能
③試験中にデバイスが劣化・破壊する場合、前兆を検知して破壊原因を特定できる
など世界トップレベルの高性能。車載部品の開発・設計効率の向上と安全を確保します。

 


「大型断面研磨」

車載用の大型電子部品や機構部品の切断、大型(700㍉角)の断面研磨が可能。
大型3次元モデルを用いて、部品構造の観察、解析、設計精度の現物確認、破損状況観察など、直接目視検査が可能。μレベルのクラック、剥離など不良調査にも有用。

 


「半導体パッケージ開封」

半導体デバイスのパッケージ樹脂を薬品などで溶解し、内部の半導体チップを露出させた試料作製を行います。CuやAgなどのワイヤダメージが少ない、或いは、ほぼない状態で開封できるので、故障解析における故障個所の観察、良品解析におけるワイヤの接合度評価が可能。

 


「高耐食性無電解Niめっき液・クオルニック」

中~高リンタイプの無電解Niめっき皮膜は、クロムめっきに代わるものとして期待されています。皮膜の耐食性を向上させるため、強い錯化剤の使用や合金化する手法があるが、析出速度や皮膜組成に問題があり、実用化されていません。
クオルニックは、合金化しないで、析出性が良く、耐食性の高い同一のめっき膜組成が連続して得られます。




▼見所-----------------------------------------------------------

パワーサイクル試験装置「パワーステーションPS101」は、標準タイプを展示して、デモンストレーションを行います。車載用を中心にパワー半導体の需要が増えるに伴って、耐久性・安全性を評価する信頼性試験のニーズも高まっています。

当社では、受託試験を通じて蓄積したノウハウを基に、数々の問題点を解決して、装置を開発しました。



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