基板故障の大きな要因になるマイグレーション現象に対し環境試験・観察・解析によりトータルでご提案します。

■概要

様々な環境変化に伴って発生するマイグレーション現象（イオンマイグレーション現象）を環境試験・観察・解析をトータルでご提案します。
また、観察・解析のみの対応も可能です。

■イオンマイグレーションの観察・解析のご提案について

弊社では、様々なお客様のニーズにお応えするため、下記項目を必要に応じて組合わせたプランをご提案します。
⓪：初期観察…蛍光実体顕微鏡、蛍光金属顕微鏡など。
①：環境試験…高温高湿槽、プレッシャクッカ　各試験。
②：必要に応じて、専用冶具を使用しての実装済み部品の素子剥がし。
③：試験後、イオンマイグレーション発生の有無チェックを蛍光実体顕微鏡やデジタルマイクロスコープなどを使い、観察・撮影を実施。
④：必要に応じて、走査型電子顕微鏡（SEM）・エネルギ分散型X線分光器（EDS）・フーリエ変換赤外分光（FT-IR）などを使用しての詳細調査。
⑤：観察・分析結果のまとめ、報告書作成。
上記のご提案プランに際し、ご指定の撮影方法や報告書の作成方法がございましたら、ご依頼時にお申し付け下さい。
必要に応じて、部品の解体や実装部品の素子剥がし等も対応します。
観察・解析を取り扱う品目については、電子部品や一般の電子機器が多数を占めますが、あらゆるマイグレーションの発生状況に対応してご提案いたします。

■イオンマイグレーション観察事例

実装部品下側に発生したマイグレーション　　　　パターン間に発生したマイグレーション

■設備紹介

 各装置仕様はカタログ値となります。
実評価では適用できない可能性もありますので、お問い合わせください。

蛍光実体顕微鏡【Leica 製：M205FA】
観察（撮影）倍率：7 倍～ 160 倍

デジタルマイクロスコープ
　　　　　【Hirox製：KH-8700】
観察（撮影）倍率：20 ～ 2,500 倍
*レボズームレンズ
　　　　　【MXG-2500REZ】使用時

走査電子顕微鏡【JEOL製 JSM-6390】
分解能 ： 3.0 nm（ 30 kV ）
　　　　 8.0 nm（ 3 kV ）
15 nm（ 1 kV ）
倍率 ： 5 ～ 300,000 倍