事例

通常の動作での寿命を予測し、初期不良のデバイスを選別する「スイッチング試験」

自動車電子・半導体試験・分析・測定

■概要

パワー半導体における信頼性評価では、一般的な半導体の評価試験とは別に個別試験が実施されます。
動作寿命試験として、パワーサイクル試験、連続通電試験、高低温逆バイアス試験に加え、高低温下でのスイッチング試験が実施される場合があります。

測定系を以下に示します。カスタム試験装置により、
　　・環境温度、印加電圧やスイッチング周波数を任意に設定可能です。
　　・放熱対策などご要望に合わせた対応が可能です。
　　・試験前後や途中取り出ししての電気特性測定も対応いたします。

　　DUTの恒温槽内設置例

　　動作時のゲート電圧とコレクタ‐エミッタ間電圧

高温/低温下における長時間スイッチング動作での寿命試験

特になし（関連規格　JEITA-ED4701)

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