事例

AFMによるnmオーダで試料表面の凹凸状態を計測することで、材料開発に役立てることができます。

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■概要

AFM（Atomic Force Microscope）は、nmオーダの針（プローブピン）を用いて試料表面の凹凸状態を計測することによって表面の粗さを測定することができます。
材料の表面をnmオーダで粗くすることによって、密着性を良くするなどの材料開発に役立てることができます。

■特長

1.　nmオーダで表面凹凸を測定可能です。
2.　測定データから、表面粗さを数値化できます
3.　表面積測定が可能です。
4.　特定位置の断面形状を測定できます。

■分析原理

■設備紹介

走査型プローブ顕微鏡　島津製作所製　SPM-9600

・理論分解能：水平：0.2nm，垂直：0.01nm
・最大走査範囲　30×30µm2

■分析用途

・試料の表面凹凸状態測定
・表面粗さ測定（数値化）
・断面形状測定

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