3/27 FT-IRの基礎知識と 前処理のテクニック、ノウハウ

1．分析の目的

2．FT-IRの基礎
　2.1 分析の中のFT-IR
　2.2 FT-IRから得られる情報
　2.3 どんな事に使えるのか
　2.4 FT-IRでスペクトルが得られるまで
　2.5 測定パラメータ

3．FT-IRの長所と短所

4．FT-IRの測定方法、それぞれの特徴、測定のコツ
　4.1 本体測定―透過法
　4.2 本体測定―ATR法
　4.3 顕微測定―透過法
　4.4 顕微測定―反射法
　4.5 顕微測定―ATR法
　4.6 顕微測定―イメージング法
　4.7 それぞれの測定法の特徴のまとめ
　4.8 きれいなスペクトルを得る意味

（質疑応答）

5．FT-IRの前処理
　5.1 前処理の目的
　5.2 本体および顕微測定の前処理
　5.3 それぞれの測定方法に応じた前処理
　5.4 目的に応じた前処理
　　5.4.1 異物の分離
　　5.4.2 微量成分の分離
　　5.4.3 積層体の断面
　　5.4.4 斜断面
　5.5 前処理のための道具と機器
　5.6 前処理での注意点
　5.7 まとめ

6．スペクトルの解析
　6.1 解析の流れ
　6.2 データベースを用いた解析
　6.3 よく使われるスペクトルの処理とそれを使用した解析
　6.4 構造解析
　6.5 問題解決のための解析
　6.6 オリジナルデータベースの作成
　6.7 定量の方法
　6.8 解析まとめ

7. 分析事例とその解説
　7.1 異物の分析
　　7.1.1 簡単な前処理での分析例
　　7.1.2 前処理が必要な分析例
　　　7.1.2.1 異物の分離
　　　7.1.2.2 異物の取り出し
　　7.1.3 FT-IRの測定方法の違いとスペクトル
　7.2 微量成分の分析
　　7.2.1 抽出なしとありのスペクトル比較
　　7.2.2 IRだけではわからない分析例
　7.3 黒いゴムの分析
　　7.3.1 FT-IRで測定できない黒いものとは何か
　　7.3.2 測定の工夫
　　7.3.3 ゴムの分析例
　7.4 極表面の分析
　　7.4.1 極表面の劣化分析例

8. まとめ

（質疑応答）