製造業関連情報総合ポータルサイト＠engineer
WEB営業力強化支援サービスのご案内
分析、故障解析、信頼性試験、試料作製、レーザ加工、再現実験　株式会社クオルテック

月別ページ

2016年01月  «  2016年3月のページ  »  2016年06月

  • 塩水噴霧試験

    信頼性試験  /  自動車 電子・半導体 試験・分析・測定
    ■概 要塩水噴霧試験は大気腐食を対象にした腐食試験法の一つで、塩化ナトリウム水溶液を噴霧した雰囲気に試験片をさらして行う試験です。試験対象は金属材料またはめっきや塗装膜等の表面処理品で、腐食・錆・変色…
    続きを読む

  • FIB（Focused Ion Beam）断面加工・観察

    観察 分析試料作製  /  自動車 電子・半導体 試験・分析・測定
    ■概 要FIBはSEM（電子顕微鏡）と類似の構造で、一次ビームを電子ビームではなくGaイオンとしたもので、試料の断面加工・観察や薄片化加工に用いられます。最近ではSEM・S／TEMとFIBが同一チャンパーで一体となった…
    続きを読む

  • STEM（走査型／透過電子顕微鏡）分析法

    分析・解析 観察  /  自動車 電子・半導体 試験・分析・測定
    ■概 要STEMはFIBなどで薄片化した試料に電子ビームを照射し、試料を透過してきた電子情報を捉え、原子・分子像を直接観察可能なレベルでの高倍率・高分解能観察が可能な装置です。TEMは電子ビームを試料通過後に結…
    続きを読む
  • 1
  • ＨＯＭＥ
  • 事例
  • 製品・技術
  • イベント
  • ニュース
  • 試験一覧
  • 設備紹介
  • 会社概要
  • お問い合わせ
参加ポータル
試験・分析.com
エコ＆エネルギーポータル