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WEB営業力強化支援サービスのご案内

電子機器・部品・材料の各種信頼性試験およびEMC測定などに幅広く対応

ＨＯＭＥ

OKIエンジニアリングは、電子機器製品の開発～製造すべてのステージで品質向上支援サービスをご提供します。 製品の品質、信頼性向上のため、多岐にわたる試験・評価・解析を、お客さまのご要望に応じて適切に提案・実施します。

 

OKIエンジニアリングの製造業支援サービス

 

OKIエンジニアリングでは、設計、試作、製造など製造業のお客さま事業フローの全領域において、信頼性試験・評価・解析、EMC試験などをお客さまに代わって実施します。

 

企画・設計・試作・認定・製造・アフター 

デバイス・
モジュール
特性評価
購入品選定 確認試験

電気的特性評価（次世代パワー半導体、メモリデバイスなど）、電源モジュールのベンチマーキング、AEC-Q100対応各種試験、スクリーニング、ESD/LU試験、静電気対策（工程・デバイス）

 熱過渡付きパワーサイクル試験

 

 

 

良品・
故障解析
購入品選定  

LSIプロセス診断、 電子部品、実装基板の良品解析

 
製造不良 市場故障

故障解析：ロックイン発熱解析（LIT）、透過X線観察、超音波探査（SAT）など非破壊検査走査型電子顕微鏡（SEM）、電子線マイクロ分析（EPMA）、赤外分光分析（FT-IR）、など

 

 

 

信頼性・

環境試験

試作確認試験

 

試作確認試験  

IECQ独立試験所、温度・湿度/熱衝撃/振動・衝撃/塵埃/耐水/ガス/耐候性/燃焼性 試験など
信頼性試験  

実装評価、はんだ接続評価、熱過渡解析、劣化診断

ロックイン発熱解析

 

 

 

 

 

 

EMC／

製品安全試験

 規格試験

規格試験 認定取得

JAB認定サイトで測定、専任技術者による対策支援

車載EMC、薬機法対応試験、海外認証取得支援

レーダーパルス試験装置

 

 

 

部品情報調査

 

購入品選定  

部品DB構築、部品情報調査（含有物質情報）

 

 

電子部品データベース

BCP・部品供給  

部品情報調査、紛争鉱物調査（製造中止情報、代替品など）

 

 

 

 

化学分析・

環境システム

構築

 

含有物質情報  

RoHS/REACH対応分析

 

RoHS/REACH対応分析　赤外分光分析（FT-IR）

環境負荷低減

半導体製造排ガス処理、排水処理、環境測定、排水・排ガスの分析、高精度地震動予測装置

 

 

 

 

計測器校正

 

計測器管理  

計量法に基づくJCSS登録、測定器DB管理

 

 

計測器管理

認定取得  

ISO9001,ISO/TS16949規格対応の校正

UL対応校正証明書発行

 

 

認定取得

お客さま製品の改善につながるサービスを合わせて提案、全体最適化

 

 赤字：法規制など対応

 

信頼性評価、解析、環境試験、ＥＭＣ測定を実施

  

◆信頼性試験・環境試験

電子部品・IC、ユニット・基板実装などの信頼性評価、故障解析／良品解析に対応

IC・チップコンデンサ・リレー・基板などの電子部品からユニット・材料までの各種信頼性評価試験を受託しています。

 

◆故障解析・良品解析

LSI・抵抗・コンデンサ・スイッチ・コネクタ・回路基板など電子部品からモジュール・ユニット製品まで広範囲の解析（故障/良品）・観察・分析を実施しています。 

 

◆電気的特性評価

電子デバイスの電気的特性測定および、信頼性評価、試験などを実施します。

  

◆EMC測定（EMC試験）

大型：10m法、車載部品のEMC試験に対応！ 

OKIエンジニアリングのEMC試験センターは公的試験所認定サイトです 

◆製品安全試験

製品が感電や火傷などの危険の低減を配慮した設計であるか、たとえ故障しても二次的に被害が拡大しないかを確認します。 

 

◆化学分析・成分分析（RoHS・REACH）

RoHS、REACHなどの規制物質の分析に対応

電子部品・機器の故障や劣化の原因となる物質の成分分析など、多様な分析サービスを提供しています。RoHS/REACHなどの規制物質はスクリーニング分析から精密分析まで対応します。 

 

新着情報

2022年11月10日
スプラッシュウォーター衝撃試験
2022年08月18日
車載用電子部品の信頼性試験（AEC-Q200）
2022年08月18日
車載用電子部品の信頼性試験（AEC-Q101）
2022年08月18日
車載用電子部品の信頼性試験（AEC-Q100）
2022年01月26日
近接磁界に対するイミュニティ試験（IEC 61000-4-39）

製品・技術

近接磁界に対するイミュニティ試…

2020年9月、医療機器のEMC国際規格「IEC 60601-1-2：2014」の Amendment1：2020（4.1版）が発行されました。4.1版では、IEC 61000-4-39「近接磁界に対するイミュニティ試験」が新たに追加されています。欧州でも4.1…
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フォギング試験（ガラス霞み性試…

高温の車内環境の中では、外気との温度差により、内装材の樹脂や添加物や接着剤から揮発成分が発生し、レンズやフロントガラスに付着し曇りとなり、レンズの透明度に影響を及ぼす恐れがあります。この曇りが、ADASに…
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LV124ワンストップ信頼性試験

LV124規格は、ドイツ自動車メーカーが制定した電装品や電子機器に対する試験規格で、Part I：電気試験（22項目）および、Part II：環境試験（28項目）から構成されています。OKIエンジニアリングではこの両試験にワ…
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IP試験（電気機械器具の外郭によ…

IP（International Protection）とは、電気機械器具の外郭への異物、ホコリや水に対する保護等級です。試験評価は保護等級により標準化された試験方法によって実施します。当社では、車載IP試験にも対応しています。…
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オンライン立会試験・評価

OKIエンジニアリングのオンライン立会試験は、お客様が当社試験所に赴くことなく、インターネット上でお客様と当社試験所にいる技術者が双方向コミュニケーションしながら進める、ウィズコロナ時代の新しい試験サー…
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気密性試験 ～MIL-STD-883／750…

気密性試験とは、中空パッケージの電子デバイスにおいて最も重要である気密性の問題（大気成分の侵入が無いか）を確認する試験です。中空パッケージの空間部分は、窒素や希ガス等の不活性ガス、真空雰囲気で封止され…
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硫黄（S8）ガス腐食試験

自動車のエンジンルーム内には、エンジンとさまざまな機器との接続ホースや封止材にゴム部品が使用され、それらゴム部品に硫黄を混ぜあわせる反応により、弾性と耐熱性を持つようになります。 エンジンルーム内の高…
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宇宙用電子部品の信頼性評価

近年、新たな宇宙ビジネスを目指す民間ロケットや小型衛星が打ち上げられています。従来の大型ロケットや大型衛星においては、失敗を防ぐため各種の信頼性試験やスクリーニングが実施されていました。民間ロケットや…
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リバブレーションチャンバー試験

屋内外で発生する携帯通信電波のマルチパスなど、実生活環境に近い電磁波環境を模擬した試験です。 リバブレーションチャンバー試験 ■特長 ◆ 実際の電磁障害環境を模擬した試験環境を提供 ◆ 80MHz～6GHzの周波数…
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REACH規則対応高懸念物質（SVHC…

REACH規則で定められた高懸念物質（SVHC）分析を低コスト、短納期でご提供 REACH規則では管理対象となる高懸念物質（SVHC）を附属書XIVに掲載し、これらを0.1％以上含む場合は、消費者からの要求があった時に45日以…
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RoHS関連分析サービス

RoHS2.0 フタル酸エステル類分析にも対応 電気・電子機器などの製品に含まれる微量なカドミウム、鉛等の含有がヨーロッパ諸国を中心に環境問題の観点から注目されております。これらの規制で許容レベルを超えると判…
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低分子シロキサン分析

シロキサンによる接点障害を防止します シロキサン接点障害に関する、原因解析、シロキサンガスの発生源特定、発生量測定シロキサンガス暴露試験（再現試験）など一連の分析、解析、再現試験等をワンストップで実施…
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電子部品の良品解析

良品解析は部品の潜在的欠陥を観察・分析手法を用いて調査する手法です。OKIエンジニアリングでは、LSIの潜在的欠陥をその影響度を考慮して定量的に評価する LSIプロセス診断を提案しています。 良品解析の主要検査…
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硫黄系アウトガス分析

高度な微量分析によりお客様の電子機器・電子部品の障害対策を支援 電極、配線などに銀を用いる電子回路基板では、しばしば硫黄系ガスによる金属腐食が不具合の要因となります。硫黄系ガスの中でも硫化水素、二酸化…
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アウトガス分析

製品を構成する材料や梱包材から発生するガス成分（アウトガス）により、製品の不具合が発生することがあります。OKIエンジニアリングは、不具合原因解明のため、構成部品から製品に至るまで、試料に合わせたサンプ…
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製品安全試験

製品安全試験は機器が感電や火傷などの危険の低減を配慮した設計であるか、たとえ故障しても二次的に被害が拡大しないかを当該製品に適用される規格に基づき確認する試験です。OKIエンジニアリングでは、iNARTEセー…
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プロービングシステム

故障解析において中心的役割を担うロックイン赤外線発熱解析は、対象品にパルス電圧を印加する必要があります。高密度実装多層基板や最先端パッケージ部品は端子への結線が困難な製品も多く、それらに対してはプロー…
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ロックイン赤外線発熱解析（LIT…

ロックイン赤外線発熱解析とは、微細化、積層化した電子部品やユニット等のショート、リーク等に伴う発熱箇所（故障箇所）を特定する方法です。ロックイン赤外線発熱解析は半導体デバイス、三次元IC、プリント基板（…
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電子部品・モジュールの故障解析

市場や実装工程で生じた部品の故障状況を把握し、電気特性の測定や様々な観察・解析をする事により故障原因の究明を行うのが［故障解析］です。故障を発生させている製造ロットを特定し、問題の広がりを最低限に抑え…
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電子部品の電気的特性評価

電気的特性測定・評価は対象となる電子部品の性能を評価する最も基本的な方法です。電子部品は、主に抵抗、コンデンサなどの受動部品と、ダイオード、トランジスタ、集積回路（LSI）などの能動部品に分類され、それ…
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