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分析、故障解析、信頼性試験、試料作製、レーザ加工、再現実験 株式会社クオルテック

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2014年7月のページ  »  2014年08月
  • 理化学分析

    分析・解析 観察  /  電子・半導体 試験・分析・測定 先端技術
    市場や生産工程で発生した製品の不良・不具合や異物の混入など、もの作りにおいて製品トラブルは必ず発生し、不良対策を施すことは必須となっています。 クオルテックでは各種分析機器を用いて、製品の材料や表面・…
  • 基板評価

    測定 信頼性試験  /  電子・半導体 試験・分析・測定 先端技術
    硬質プリント基板やフレキシブルプリント基板の各種品質評価を行っています。また、実装部品の評価や、マイグレーション試験、ウイスカ観察など、実装基板の評価も行っています。海外調達基板や海外実装品の品質確認…
  • 出張セミナー

    電子・半導体 試験・分析・測定 先端技術
    クオルテックでは、専門技術者を貴社へ派遣する出張セミナーを実施しております。下記は、弊社がご提案できるテーマの一例。お客様のご要望に合わせて、時間や料金は柔軟に対応いたします。30分以下のショートセミナ…
  • コンサルティング

    電子・半導体 試験・分析・測定 先端技術
    不良品ゼロの製造現場、故障ゼロの製品を目指して、材料の性能や信頼性評価に基づいたものづくり環境の整備・改善、製造部品・製品作りの改善まで、トラブルの原因究明から改善を徹底して指導・サポートします。 E…
  • 微細(レーザ・表面処理)加工

    微細加工  /  電子・半導体 試験・分析・測定 先端技術
    レーザ光の特徴である「小径」「非接触」を最大限に発揮出来る「最新のレーザ加工機」を使用し、ビルドアップ基板の黎明期から蓄積された「技術」「ノウハウ」でお客様の理想に最も近い「容」でのサービスをご提供致…
  • 試料作製

    分析試料作製 観察  /  自動車 電子・半導体 試験・分析・測定
    断面試料作製は、信頼性試験を始めとした評価・検討するために必要な良品・不良品解析・分析を実施する上で、不可欠な技術となっております。私たちクオルテックは、光学及び電子顕微鏡による表面観察、元素分析に加…
  • 信頼性試験

    信頼性試験  /  電子・半導体 試験・分析・測定 先端技術
    新規開発品、不具合の対策品や試作品、それらの基板や製品の様々な環境試験を承り、信頼性を評価します。製品に要求される品質や特性に合わせた試験条件で、熱や湿度、振動や高電圧・高電流などの外的ストレスを与え…
  • 再現実験

    分析・解析  /  電子・半導体 試験・分析・測定 先端技術
    故障・不具合発生の原因究明と問題解決のためには、正確な分析データと正解を実証する再現実験が不可欠です。同じ故障・不具合が発生するまで分析と再現実験を繰り返し、真の意味での現場改善・問題解決をご提供しま…
  • 生化学分析

    分析・解析  /  電子・半導体 試験・分析・測定 先端技術
    「食の安心」を支える食品分析技術。迅速かつ正確な情報提供により、豊かな食生活を守ります。食品中のアレルゲン検査に関しては、消費者庁による公定法「アレルギー物質を含む食品の検査方法について」に則っとった…
  • 故障解析・良品解析

    分析・解析  /  電子・半導体 試験・分析・測定 先端技術
    プリント基板、電子部品、およびそれらを用いた部品実装基板(製品モジュール)などの電子機器の故障解析および良品解析を行っています。故障解析では、様々な検査装置を用いて機器の故障原因の追究を行います。良品…
  • 電子機器のEMC対策セミナー【ノイズ可視化装置見学&実験デモ付】

     / 2014年07月11日 /  自動車 電子・半導体 試験・分析・測定
    イベント名 電子機器のEMC対策セミナー【ノイズ可視化装置見学&実験デモ付】
    開催期間 2014年08月22日(金)
    14:00~17:00(13:30受付開始)
    セミナーを2時間、ノイズ可視化装置見学&体験会を1時間で予定しております。
    会場名 株式会社クオルテック 4号館
    会場の住所 大阪府堺市堺区三宝町4丁233-2
    地図 http://www.qualtec.co.jp/company/access.php
    お申し込み期限日 2014年08月19日(火)17時
    お申し込み受付人数 12  名様
    お申し込み

    拝啓 盛夏の候、貴社ますますご発展のこととお慶び申し上げます。平素は格別のご高配を賜り、厚く御礼申し上げます。このたび、クオルテックでは電子機器のEMC(電磁両立性)対策セミナーを開催いたします。電子機器…
  • 基板評価:はんだ濡れ性試験

    信頼性試験 測定  /  産業機械機器 電子・半導体 試験・分析・測定
    基板評価 - はんだ濡れ性試験 はんだ濡れ性試験の事例をご紹介します。Auめっき液に6パターンの濃度の不純物を混ぜて電気Auめっきを行い、各々のはんだの濡れ性を確認しました。 ・はんだ濡れ不良部を観察・はんだボ…
  • 故障解析:ワイヤーボンド剥れ

    分析・解析  /  電子・半導体 試験・分析・測定 先端技術
    故障解析 - ワイヤーボンド剥れ 不良基板のワイヤーボンド剥れの解析を行い、ボンディング不良発生原因を考察した事例を紹介しています。 以下の資料ダウンロードよりご覧いただけます。
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