イベント
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11/21 電子デバイス製造における 静電気対策(ESD対策)の基礎と測定法・効果的な対策
イベント名 電子デバイス製造における 静電気対策(ESD対策)の基礎と測定法・効果的な対策 開催期間 2024年11月21日（木）
13:00～17:15
※会社・自宅にいながら受講可能です※会場名 Live配信セミナー（リアルタイム配信） 会場の住所 オンライン お申し込み期限日 2024年11月21日（木）13時 お申し込み受付人数 30 名様 お申し込み
電子デバイス製造における静電気対策(ESD対策)の基礎と測定法・効果的な対策～ESD対策に必要とされる各種測定機、その目的と使用方法～～半導体・PCBA・シート材等の製造工程における問題と測定・対策～【実演や実験… -
11/12 電子デバイス製造における 真空および薄膜形成技術の基礎と応用
イベント名 電子デバイス製造における 真空および薄膜形成技術の基礎と応用 開催期間 2024年11月12日（火）
【会場受講】2024年11月12日（火）10:30～16:30
【Live配信】2024年11月12日（火）10:30～16:30
※会社・自宅にいながら受講可能です※会場名 【会場受講】もしくは【Live配信受講】 会場の住所 東京都千代田区神田駿河台3-2-11 連合会館 404会議室 地図 https://www.science-t.com/hall/16432.html お申し込み期限日 2024年11月12日（火）10時 お申し込み受付人数 30 名様 お申し込み
電子デバイス製造における真空および薄膜形成技術の基礎と応用－なぜ真空が必要か？超高真空、真空装置と設計、真空の作り方・測り方を解説－－真空蒸着・スパッタリング・CVD・ALDによる薄膜形成、ドライエッチング… -
11/22 国内／海外の外部委託試験施設に 信頼性基準試験を委託する際の信頼性確保の留意点 ＜試験や施設の信頼性確保を具体事例を用いて解説＞
イベント名 国内／海外の外部委託試験施設に 信頼性基準試験を委託する際の信頼性確保の留意点 ＜試験や施設の信頼性確保を具体事例を用いて解説＞ 開催期間 2024年11月22日（金）
11:00～16:30
※会社・自宅にいながら受講可能です※会場名 Live配信セミナー（リアルタイム配信） 会場の住所 オンライン お申し込み期限日 2024年11月22日（金）11時 お申し込み受付人数 30 名様 お申し込み
国内／海外の外部委託試験施設に信頼性基準試験を委託する際の信頼性確保の留意点＜試験や施設の信頼性確保を具体事例を用いて解説＞～日本独自の規制要求／海外当局への承認申請では求められないために直面する課題… -
イベント名 エポキシ樹脂 ２日間総合セミナー 開催期間 2025年02月06日（木） ～ 2025年02月13日（木）
【Live配信：1日目（アーカイブ付）】
2025年2月6日（木） 10:30～16:30
【Live配信：2日目（アーカイブ付）】
2025年2月13日（木） 10:30～16:30
＜アーカイブの視聴期間＞
1日目のアーカイブ：2025年2月7日(金)～2月13日(木)まで
2日目のアーカイブ：2025年2月14日(金)～2月20日(木)まで
※会社・自宅にいながら受講可能です※会場名 【ZoomによるLive配信セミナー】アーカイブ(見逃し)配信付き 会場の住所 オンライン お申し込み期限日 2025年02月06日（木）10時 お申し込み受付人数 30 名様 お申し込み
エポキシ樹脂 ２日間総合セミナー■エポキシ樹脂・硬化剤・硬化促進剤の種類と特徴、トラブル事例と対策■■分析法、硬化物の構造と特性・硬化反応挙動の評価法■■変性・配合改質、有害性、エレクトロニクス用途・… -
10/30 ヒートシールの基礎、接合のメカニズムと 品質管理・不具合対策
イベント名 ヒートシールの基礎、接合のメカニズムと 品質管理・不具合対策 開催期間 2024年10月30日（水） ～ 2024年11月14日（木）
【ライブ配信】2024年10月30日（水）10:30～16:30
【アーカイブ配信】2024年11月14日（木）まで受付
(視聴期間：11/14～11/27）
※会社・自宅にいながら受講可能です※会場名 【Live配信（Zoom使用）受講】もしくは【アーカイブ配信受講】 会場の住所 オンライン お申し込み期限日 2024年11月14日（木）16時 お申し込み受付人数 30 名様 お申し込み
ヒートシールの基礎、接合のメカニズムと品質管理・不具合対策～よりよいヒートシールを実現するための高分子加工学からのアプローチ～ 受講可能な形式：【ライブ配信】or【アーカイブ配信】のみ何故「くっつくのか… -
10/25 ＜3時間で半導体産業の動向を把握する＞ 半導体市場の動向と日本のあるべき姿
イベント名 ＜3時間で半導体産業の動向を把握する＞ 半導体市場の動向と日本のあるべき姿 開催期間 2024年10月25日（金）
13:00～16:30
【アーカイブの視聴期間】
2024年10月26日(土)～11月1日(金)まで
※このセミナーはアーカイブ付きです。セミナー終了後も繰り返しの視聴学習が可能です。
※会社・自宅にいながら受講可能です※会場名 【ZoomによるLive配信セミナー】アーカイブ(見逃し)配信付き 会場の住所 オンライン お申し込み期限日 2024年10月25日（金）13時 お申し込み受付人数 30 名様 お申し込み
＜3時間で半導体産業の動向を把握する＞半導体市場の動向と日本のあるべき姿■半導体市場動向、半導体アプリケーション動向、大手半導体メーカーの動向■ 受講可能な形式：【Live配信(アーカイブ配信付)】のみ【半導… -
3/13 半導体封止材用エポキシ樹脂・硬化剤・硬化促進剤と 分析・特性評価法および技術動向
イベント名 半導体封止材用エポキシ樹脂・硬化剤・硬化促進剤と 分析・特性評価法および技術動向 開催期間 2025年03月13日（木）
10:30～16:30
【アーカイブの視聴期間】
2025年3月14日(金)～3月20日(木)まで
※このセミナーはアーカイブ付きです。セミナー終了後も繰り返しの視聴学習が可能です。
※会社・自宅にいながら受講可能です※会場名 【ZoomによるLive配信セミナー】アーカイブ(見逃し)配信付き 会場の住所 オンライン お申し込み期限日 2025年03月13日（木）10時 お申し込み受付人数 30 名様 お申し込み
半導体封止材用エポキシ樹脂・硬化剤・硬化促進剤と分析・特性評価法および技術動向■各副資剤、硬化物の特性評価法、配合改質、パワー半導体用途での技術動向■ 受講可能な形式：【Live配信(アーカイブ配信付)】の… -
10/30 振動・騒音対策材料入門 ～制振・防振・吸音・遮音材料の特性と活用法～
イベント名 振動・騒音対策材料入門 ～制振・防振・吸音・遮音材料の特性と活用法～ 開催期間 2024年10月30日（水）
10:30～16:30
【アーカイブの視聴期間】
2024年10月31日(木)～11月6日(水)まで
このセミナーはアーカイブ付きです。セミナー終了後も繰り返しの視聴学習が可能です。
※会社・自宅にいながら受講可能です※会場名 【ZoomによるLive配信セミナー】アーカイブ(見逃し)配信付き 会場の住所 オンライン お申し込み期限日 2024年10月30日（水）10時 お申し込み受付人数 30 名様 お申し込み
振動・騒音対策材料入門～制振・防振・吸音・遮音材料の特性と活用法～■材料の力学物性、音の特性、各材料設計の手法、評価法■■振動・騒音対策のための材料技術と評価法■ 受講可能な形式：【Live配信(アーカイブ… -
10/22 ＜低誘電特性材料への低導体損失回路形成へ＞ 高周波対応プリント配線板の現状・課題と新たな回路形成技術
イベント名 ＜低誘電特性材料への低導体損失回路形成へ＞ 高周波対応プリント配線板の現状・課題と新たな回路形成技術 開催期間 2024年10月22日（火）
13:00～16:30
※会社・自宅にいながら受講可能です※会場名 Live配信セミナー（リアルタイム配信） 会場の住所 オンライン お申し込み期限日 2024年10月22日（火）10時 お申し込み受付人数 30 名様 お申し込み
＜低誘電特性材料への低導体損失回路形成へ＞高周波対応プリント配線板の現状・課題と新たな回路形成技術■プリント配線板に関わるめっき技術、低損失回路形成に向けた新たな取り組み■■Beyond 5Gに向けたプリント… -
10/30 ＜ベイズ計測の基礎と計測インフォマティクス＞ よくわかる！データ駆動科学の基礎・実践 ■ベイズ計測とSpM■
イベント名 ＜ベイズ計測の基礎と計測インフォマティクス＞ よくわかる！データ駆動科学の基礎・実践 ■ベイズ計測とSpM■ 開催期間 2024年10月30日（水）
10:30～16:30
【アーカイブの視聴期間】
2024年10月31日(木)～11月6日(水)まで
このセミナーはアーカイブ付きです。セミナー終了後も繰り返しの視聴学習が可能です。
※会社・自宅にいながら受講可能です※会場名 【ZoomによるLive配信セミナー】アーカイブ(見逃し)配信付き 会場の住所 オンライン お申し込み期限日 2024年10月30日（水）10時 お申し込み受付人数 30 名様 お申し込み
＜ベイズ計測の基礎と計測インフォマティクス＞よくわかる！データ駆動科学の基礎・実践■ベイズ計測とSpM■■ベイズ推論を習得しようとしても、市販本では計測化学に必要な知識を得ることはできません■■計測イン…
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