LSI・電子部品・材料等の正確な解析・分析の為には微細構造を観察したり、元素を分析したりする事が必要であり、その手段の一つとして透過型電子顕微鏡（TEM）やエネルギー分散型X線分光法(EDX）が有効です。◆0.1nm…

LSI・電子部品・材料等の正確な解析・分析の為には微細構造を観察したり、元素を分析したりする事が必要であり、その手段の一つとして走査型電子顕微鏡（SEM）やエネルギー分散型X線分光法(EDX）が有効です。

■樹脂の組成解析電子部品、塗料、材料等に含有する樹脂を解析し、不具合品もしくは故障の起因とされる異物の解析、主材料成分の解析・評価、および添加剤、複合成分を解析します。赤外分光分析（FT-IR分析）により…

LSIテスター評価は、LSIを対象とし、非破壊で電気的特性の現状を把握します。電気的な動作確認が主で、入力端子に機能動作をさせるパターンを印加し、出力端子が期待通りの動作をするかを確認します。LSIテスター評…

１、個別半導体の電気的特性ダイオード、トランジスタおよびIGBTなどパワーモジュールなどがあります。■ダイオード［特性項目］順方向電流電圧/逆方向電圧電流［測定装置］半導体パラメータアナライザ・カーブトレ…

OKIエンジニアリングは、国際規格「ISO/IEC17025：2017」のEMC認定試験所としてJAB（日本適合性認定協会）より認定を取得しており、iNARTE資格取得をしている技術者も在籍。電子・電気機器・車載電子機器の幅広い分…

OKIエンジニアリングでは、通常サイズの塩水噴霧試験槽の他、本庄市の試験サイト所有の大型塩水サイクル試験槽（内寸2.0W×1.0D×0.5H[m]）を使った塩水サイクル試験などの環境試験を受託しています。大型の塩水噴霧…