7/9 半導体テスト技術の基礎と動向

(株)EVALUTO　講師・技術コンサルタント　工学博士　畠山 一実　氏
【専門】テスト設計技術，高信頼化技術

　ChatGPTやGemini等の生成AIが広く普及するとともに、その処理に要する計算能力を供給する半導体の需要は非常に高まっています。また、電気自動車やスマートシティなどでも電子システムが中心的な役割を担っています。さらに、半導体はデジタル変革(DX)のキーデバイスともなっており、半導体集積回路やそれを使用する電子機器の品質、信頼性及びセキュリティは益々重要となっています。このような背景のもと、これらの重要な要件を支える基盤技術として、半導体テスト技術に対する注目が高まっています。

　そこで、本講演では、半導体テスト技術について基礎から分かりやすく紹介します。とくに、AI用等の半導体で非常に重要となる論理回路のテスト技術に関して、実際にテストに用いるテストパターンを作成する「テスト生成」及びテスト生成を実用的な時間で可能にする「テスト容易化設計」について、テスト品質とテストコストを両立させるポイントを含めて詳しく説明します。さらに，最新の技術動向として，自動車用半導体等でとくに重要となる「高品質テスト」，テスト技術への「AI」の活用，テスト技術と「セキュリティ」の関わりについて最近の国際会議の論文に基づいて紹介します。

１．半導体のテストについて

　・半導体のライフサイクルにおけるテストとその意義
　・テストの種類とテスト装置
　・テストコストについて
　・テスト品質について

２．テスト設計技術
　2.1 テスト生成技術
　　　・故障モデル
　　　・故障シミュレーション
　　　・テスト生成アルゴリズム
　2.2 テスト容易化設計技術
　　　・スキャン設計
　　　・組込み自己テスト

３．最新テスト技術動向
　3.1 高品質テスト技術
　　　・故障モデルの高度化
　　　・アナログテストの高品質化
　3.2 テストへのAI応用
　　　・AI応用による品質向上
　　　・AI応用によるコスト削減
　　　・AI応用による歩留り向上
　3.3 テストとセキュリティ
　　　・回路の難読化
　　　・偽造ICへの対策

４．まとめ

　　□質疑応答□

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